[发明专利]一种雪崩焦平面探测器外延结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110968713.7 申请日: 2021-08-23
公开(公告)号: CN113707749A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 申志辉;赵文伯;崔大健;陈扬;刘海军;张承;敖天宏 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: H01L31/107 分类号: H01L31/107;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 王海军
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明属于宽禁带半导体、光电子器件领域,具体涉及一种雪崩焦平面探测器外延结构及其制备方法;所述外延结构从上至下包括非故意掺杂AlGaN吸收层、N型AlGaN组分渐变层、N型AlGaN超晶格层、非故意掺杂AlN模板层以及AlN单晶衬底。本发明的外延结构能够在一定程度上解决蓝宝石衬底晶格失配与热失配高、外延材料缺陷密度高和热导率差等问题,提高APD焦平面阵列的灵敏度、响应均匀性和可靠性。
搜索关键词: 一种 雪崩 平面 探测器 外延 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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