[发明专利]SOC芯片高速串行差分总线的系统级测试装置在审
| 申请号： | 202110971713.2 | 申请日： | 2021-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN113656232A | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 袁科学 | 申请（专利权）人： | 北京炬力北方微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 深圳君信诚知识产权代理事务所(普通合伙) 44636 | 代理人： | 刘伟 |
| 地址： | 100083 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种SOC芯片高速串行差分总线的系统级测试装置，包括背板总线、第一板卡和第二板卡；所述第一板卡包含主控通信模块、DUT控制测试模块和至少一个功能测试模块组，每个所述功能测试模块组包括HDMI TX功能测试模块、HDMI RX功能测试模块、LVDS TX功能测试模块、USB功能测试模块以及网口功能测试模块；所述第二板卡包括至少一个SOC芯片插座，每个SOC芯片插座用于加载一个被测SOC芯片，其中，所述HDMITX功能测试模块、HDMI RX功能测试模块、LVDS TX功能测试模块、USB功能测试模块以及网口功能测试模块分别用于对所述被测SOC芯片的对应端口进行通信功能测试，通过上述方式，本发明能够在高速信号测试中降低了对ATE的要求，使得测试成本降低。 | ||
| 搜索关键词： | soc 芯片 高速 串行 总线 系统 测试 装置 | ||
【主权项】：
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