[发明专利]一种GBAS电离层延迟梯度的双平滑伪距域检测方法有效

专利信息
申请号: 202110973938.1 申请日: 2021-08-24
公开(公告)号: CN113777636B 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 薛瑞;胡柱 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S19/39 分类号: G01S19/39;G01S19/41
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 李明里;庞许倩
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种GBAS电离层延迟梯度的双平滑伪距域检测方法,属于卫星导航技术领域,解决电离层梯度检测的问题;方法包括采用两组不同的时间常数,分别对地面和飞机上观测的载波进行相位平滑滤波,得到两组差分校正值和两组平滑伪距;采用差分校正值校正平滑伪距得到两组时间常数下的差分校正伪距;将两组差分校正伪距作差后除以两倍的时间常数之差,构建出随时间变化逐渐收敛至电离层延迟梯度的检验统计量;根据检验统计量的误差分布和III类精密进近的误警率构建检验统计量的阈值;通过比较检验统计量与阈值,检测伪距观测量中是否含有电离层梯度。本发明可以实现更快速和更精确的电离层延迟梯度检测。
搜索关键词: 一种 gbas 电离层 延迟 梯度 平滑 伪距域 检测 方法
【主权项】:
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