[发明专利]一种基于光频梳的太赫兹天线形面检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 202110976446.8 申请日: 2021-08-24
公开(公告)号: CN113932729A 公开(公告)日: 2022-01-14
发明(设计)人: 葛锦蔓;谭庆贵;李小军;禹旭敏;李琪;薛亮;蒋炜 申请(专利权)人: 西安空间无线电技术研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 茹阿昌
地址: 710100 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于光频梳的太赫兹天线形面检测系统及方法,用于实现太赫兹天线形面的高精度快速测量。其中光梳光场生成模块对其中一个光频梳出射的测试光进行空间啁啾,形成多波长的一维测试光场,再经过平移或转动装置形成正交的测试光场。利用该光场的强度、空间位置以及相位间的对应关系,实现太赫兹天线形面的高精度检测。利用与测试光存在微小重复频率差的另一台光频梳,对测试光场进行异步光学采样,再通过高精度的三维结构光场重建实现太赫兹天线形面的复原,不仅为实现天赫兹天线高精度形面检测提供了可靠的依据,也为高增益星载太赫兹天线的设计实现提供了技术支持。
搜索关键词: 一种 基于 光频梳 赫兹 天线 检测 系统 方法
【主权项】:
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