[发明专利]测试熔体表面张力的方法在审
申请号: | 202110992292.1 | 申请日: | 2021-08-27 |
公开(公告)号: | CN113776992A | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
发明(设计)人: | 李瑞佼;胡恒广;王丽红;周波;王世岚;王肖义 | 申请(专利权)人: | 河北光兴半导体技术有限公司;东旭科技集团有限公司 |
主分类号: | G01N13/02 | 分类号: | G01N13/02 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 刘小峰;杨帆 |
地址: | 050035 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种测试熔体表面张力的方法,包括:将样品加热为熔体,并使得所述熔体形成熔滴;获取所述熔滴的图像;以及对所述图像进行处理,计算熔体的表面张力;其中所述加热包括:将样品在第一温度加热第一预定时间,然后将加热温度从所述第一温度降至第二温度,并在所述第二温度保温第二预定时间。本发明能够提高熔体表面张力测试的准确性。 | ||
搜索关键词: | 测试 体表 张力 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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