[发明专利]一种基于形态学特征的亚像素级椭圆检测方法

摘要

本发明涉及一种基于形态学特征的亚像素级椭圆检测方法，从目标图像中有效提取椭圆的亚像素级边缘坐标以及椭圆的几何特征。包括以下步骤：图像采集和图像预处理；对目标图像进行基于局部子区的亚像素级边缘检测；将亚像素级边缘点整像素化；进行基于形态学特征的边缘筛选；根据目标椭圆的整像素边缘坐标索引得到亚像素边缘坐标；最后根据最小二乘原理进行椭圆拟合，从而得到椭圆的几何信息。通过设计光测动力学实验，将本发明与传统椭圆检测方法进行对比，验证了本发明可以有效提高了椭圆检测的准确性。为光测实验力学和数字摄影测量领域提供了一个可行的技术手段。