[发明专利]一种内存泄漏测试方法、系统、电子设备及介质在审
| 申请号： | 202110997617.5 | 申请日： | 2021-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN113835982A | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 刘福利;于莎莎 | 申请（专利权）人： | 青岛中科英泰商用系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 青岛清泰联信知识产权代理有限公司 37256 | 代理人： | 栾瑜 |
| 地址： | 266114 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种内存泄漏测试方法、系统、电子设备及介质，内存泄漏测试方法包括：脚本编写步骤：编写应用操作脚本；脚本运行步骤：获取设备权限后，通过monkey指令运行所述应用操作脚本，获得应用操作脚本运行结果；内存泄漏判断步骤：根据所述应用操作脚本运行结果，查看应用系统的内存占用量后，判断所述应用系统中有无内存泄漏。本发明无需人工频繁手点应用开关，通过脚本来实现可重复的固定事件操作，在AndroidStudio中观察内存占用情况。因而，内存泄漏测试操作简单方便，且无需手动干预，达到了简单快捷的自动化内存泄漏测试目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 泄漏 测试 方法 系统 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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