[发明专利]一种氮化镓增强型器件及其制备方法有效
申请号: | 202111001242.9 | 申请日: | 2021-08-30 |
公开(公告)号: | CN113851522B | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 何俊蕾;林科闯;刘成;林育赐;叶念慈;徐宁 | 申请(专利权)人: | 湖南三安半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/778;H01L21/335 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 王雪莎 |
地址: | 410000 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种氮化镓增强型器件及其制备方法,衬底、GaN缓冲层、AlGaN势垒层、过渡层和P‑GaN栅为自下而上依次层叠,栅极设置在P‑GaN栅上,源极和漏极形成于AlGaN势垒层上,过渡层位于源极和漏极之间,过渡层的Mg掺杂浓度小于P‑GaN栅的Mg掺杂浓度;过渡层具有被P‑GaN栅覆盖的第一区域和未被P‑GaN栅覆盖的第二区域,第一区域的空穴浓度大于第二区域的空穴浓度;P‑GaN栅具有自下而上依次层叠的第一P型层和第二P型层,第一P型层的空穴浓度大于或等于第二P型层的空穴浓度。本发明避免在外延生长中Mg扩散及刻蚀P‑GaN栅的损伤,实现低导通电阻、高可靠性的GaN增强型功率器件。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮化 增强 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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