[发明专利]芯片功能验证方法、装置、可读存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202111006678.7 | 申请日： | 2021-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN113704043A | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 李正玉;胡旭;徐光柳 | 申请（专利权）人： | 地平线(上海)人工智能技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657 | 代理人： | 毛丽琴 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开实施例公开了一种芯片功能验证方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，其中，该方法包括：接收输入的验证工具选择参数；响应于确定验证工具选择参数表示软件方式验证工具被选择，生成软件模拟被测对象，并基于预设的软件驱动代码生成软件激励信号；基于软件激励信号，控制软件模拟被测对象生成软件执行结果；响应于确定验证工具选择参数表示硬件方式验证工具被选择，生成硬件模拟被测对象，并基于预设的硬件驱动代码生成硬件激励信号；基于硬件激励信号，控制硬件模拟被测对象生成硬件执行结果。本公开实施例可以实现快速地对针对同一芯片设计的不同类型的被测对象进行验证，降低了芯片验证成本，提高了芯片验证方法的复用性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 功能 验证 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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