[发明专利]一种双时钟错相位采样装置及其采样方法和光时域反射仪有效

专利信息
申请号: 202111006831.6 申请日: 2021-08-30
公开(公告)号: CN113783607B 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 刘邦;鲍驰;谢吕才;李瑞浔;朱华 申请(专利权)人: 昂纳科技(深圳)集团股份有限公司
主分类号: H04B10/071 分类号: H04B10/071;H04J3/06
代理公司: 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 代理人: 陈琳
地址: 518000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及光时域反射仪技术领域,尤其涉及一种双时钟错相位采样装置及其采样方法和光时域反射仪,所述双时钟错相位采样装置包括光信号接收模块,数据采样模块,以及控制模块,所述包括控制模块主控单元,第一时钟锁相环单元,第二时钟锁相环单元;所述第一时钟锁相环单元发出的采样信号的频率与第二时钟锁相环单元发出的电脉冲信号的频率不同;不同频率的采样信号和电脉冲信号能够形成不同的相位差;所述控制模块获取数据采样模块在不同相位差下的多组采样数据;即可大大提高光时域反射仪的分辨率,提高光路中事件点的定位精度。
搜索关键词: 一种 时钟 相位 采样 装置 及其 方法 时域 反射
【主权项】:
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