[发明专利]一种相控阵天线在轨校正与形变评估方法在审

专利信息
申请号: 202111006850.9 申请日: 2021-08-30
公开(公告)号: CN113934965A 公开(公告)日: 2022-01-14
发明(设计)人: 赵宏伟;吴疆;李琳;王迪;瞿颜;李成国;李樊 申请(专利权)人: 西安空间无线电技术研究所
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10;G06F30/17;G06F30/27;G06N3/12;H01Q3/34
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 任林冲
地址: 710100 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种相控阵天线在轨校正与形变评估方法,首先对有源相控阵天线信标、阵面和通道的一体化链路进行地面结构和幅相测量;然后在地面幅相测量数据基础上计算得到各个通道在轨补偿相位,完成相控阵天线电性能在轨校正;其次根据各通道的相位变化值,获得阵列天线信标到各个阵面单元位置的物理形变长度;再次通过与阵列天线地面结构测量数据比较计算,预测在轨形变后阵面各个单元可能的位置坐标;最后将阵面形变在轨评估归结为阵面单元位置的最优化问题,构建形变优化模型和优化约束条件对阵元位置进行更新,在多次迭代优化基础上求解得到最终阵元位置坐标,实现在轨形面变化评估。
搜索关键词: 一种 相控阵 天线 校正 形变 评估 方法
【主权项】:
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