[发明专利]分类模型训练方法、瑕疵检测方法、装置和电子设备在审
| 申请号： | 202111019096.2 | 申请日： | 2021-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN113723527A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 雷翔;张发恩;刘金露;秦永强 | 申请（专利权）人： | 重庆赛迪奇智人工智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06T5/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 唐正瑜 |
| 地址： | 400000 重庆市九龙坡区火*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种分类模型训练方法、瑕疵检测方法、装置和电子设备，其中，该分类模型训练方法包括：使用第一训练集，对初始提取模型进行训练，以得到目标提取模型；使用该目标提取模型提取第二训练集中的各张瑕疵图片进行特征提取，以得到瑕疵特征集；使用该瑕疵特征集，对初始分类模型进行训练，以得到目标分类模型。 | ||
| 搜索关键词： | 分类 模型 训练 方法 瑕疵 检测 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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