[发明专利]用于半导体存储器装置的行复制操作的保留行及相关联方法及系统在审
| 申请号： | 202111030864.4 | 申请日： | 2021-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN114138175A | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | R·J·鲁尼 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06;G11C11/408;G11C11/4091;G11C11/4093 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及用于半导体存储器装置的行复制操作的保留行及相关联方法及系统。此存储器装置可包含具有一组行的存储器阵列，其中所述组中的一或多个行为行复制操作保留且从针对所述存储器阵列的存取命令隐藏(不可寻址)。所述保留行可包含虚设行，所述虚设行经配置以将均匀处理条件提供到所述存储器阵列。另外或替代地，所述保留行可包含缓冲行，所述缓冲行经配置以提供所述存储器阵列中的缓冲区。在一些实施例中，响应于检测到行锤击活动，所述存储器装置可执行所述行复制操作。通过将所述行锤击活动路由到所述保留行，所述行复制操作可减少与所述行锤击活动相关联的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体 存储器 装置 复制 操作 保留 相关 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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