[发明专利]利用一维光子晶体传感器快速检测紫外线强度的方法在审
| 申请号： | 202111031395.8 | 申请日： | 2021-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN113776663A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 郭明;魏桓;郑吉祺;冯明瑞 | 申请（专利权）人： | 大连大学 |
| 主分类号： | G01J1/12 | 分类号： | G01J1/12 |
| 代理公司： | 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人： | 祝诗洋 |
| 地址： | 116622 辽宁省*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及检测紫外线强度的方法，具体为利用一维光子晶体传感器快速检测紫外线强度的方法，属于光学领域。本发明的技术方案主要包括：将邻硝基苯甲醛掺杂到二氧化钛溶胶中，作为一维光子晶体膜中的高折射率材料，以壳聚糖溶胶为低折射率材料，采用旋涂法制成一维光子晶体膜。紫外线照射光子晶体传感器时，邻硝基苯甲醛电离出氢离子，引起光子晶体中高折射率层结构发生改变，光子晶体膜的颜色变化与紫外线的强度呈现对应关系，从而达到检测紫外线强度的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 光子 晶体 传感器 快速 检测 紫外线 强度 方法 | ||
【主权项】：
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