[发明专利]集成TMBS结构的超结MOS器件及其制造方法在审
申请号: | 202111032029.4 | 申请日: | 2021-09-03 |
公开(公告)号: | CN113782608A | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
发明(设计)人: | 王加坤;肖红秀 | 申请(专利权)人: | 杭州芯迈半导体技术有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 刘逸潇 |
地址: | 310051 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种集成TMBS结构的超结MOS器件及其制造方法,其中超结MOS器件包括超结MOS器件本体,超结MOS器件本体中部分元胞之间并联集成有TMBS结构。本发明实施例提供的集成TMBS结构的超结MOS器件制造方法,通过在超结MOS器件本体中部分元胞之间并联集成TMBS结构,来极大的改善超结MOS器件的反向恢复特性,解决由于较高的反向恢复峰值电流等导致的超结MOS器件容易损坏,进而降低使用安全性的问题,提高了超结MOS器件在使用过程中的安全性。其在不增加工艺步骤的基础上,在超结MOS器件本体中的两个或多个元胞之间集成TMBS结构,工艺简单且降低成本。 | ||
搜索关键词: | 集成 tmbs 结构 mos 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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