[发明专利]集成TMBS结构的超结MOS器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111032029.4 申请日: 2021-09-03
公开(公告)号: CN113782608A 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 王加坤;肖红秀 申请(专利权)人: 杭州芯迈半导体技术有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 刘逸潇
地址: 310051 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种集成TMBS结构的超结MOS器件及其制造方法,其中超结MOS器件包括超结MOS器件本体,超结MOS器件本体中部分元胞之间并联集成有TMBS结构。本发明实施例提供的集成TMBS结构的超结MOS器件制造方法,通过在超结MOS器件本体中部分元胞之间并联集成TMBS结构,来极大的改善超结MOS器件的反向恢复特性,解决由于较高的反向恢复峰值电流等导致的超结MOS器件容易损坏,进而降低使用安全性的问题,提高了超结MOS器件在使用过程中的安全性。其在不增加工艺步骤的基础上,在超结MOS器件本体中的两个或多个元胞之间集成TMBS结构,工艺简单且降低成本。
搜索关键词: 集成 tmbs 结构 mos 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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