[发明专利]一种超低温激光器芯片老化检测装置在审
| 申请号： | 202111035610.1 | 申请日： | 2021-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN113466672A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 邱德明;张方正 | 申请（专利权）人： | 武汉盛为芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 姜展志 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超低温激光器芯片老化检测装置，包括罐体、盖子、第一伸缩件和测试台，罐体上端敞口，盖子可拆卸的密封安装在罐体上端的敞口处，罐体内部设有一个隔板，隔板将罐体分割成上腔室和下腔室，隔板的中部设有开口，隔板的下端转动安装有一个门板，且门板处设有驱动件，驱动件用以驱动门板向下转动至将开口打开，第一伸缩件安装在盖子的中部，且其伸缩端朝下，测试台安装在第一伸缩件的伸缩端，下腔室内用以装纳液态气体，第一伸缩件伸长以驱动测试台经开口进入到下腔室内，或收缩以驱动测试台经开口回位到上腔室内，测试台的导线经密封贯穿至盖子外，测试台用以安装超低温激光器芯片，其结构简单，且测试成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超低温 激光器 芯片 老化 检测 装置 | ||
【主权项】：
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