[发明专利]开关性能测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202111051682.5 | 申请日： | 2021-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN113805051B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 麦柳桥;吴坤贤;陈煜平 | 申请（专利权）人： | 深圳市欧瑞博科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351 | 代理人： | 苗燕 |
| 地址： | 518055 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种开关性能测试方法，应用于单火开关设备的测试电路，单火开关设备适于接入测试电路以备测试，测试电路包括第一负载、第二负载，单火开关设备包括控制电路，第二负载与控制电路串联，控制电路与第一负载串联后接入电源电路，方法包括：根据单火开关设备的取电模式，对第二负载进行电流调节；根据电流调节，获取第二负载的临界电流，临界电流用于表征第二负载正常工作所需最低电压对应的电流值；根据临界电流，确定单火开关设备的功耗范围。本方法可较为准确地量化开关性能的测试结果，有利于智能单火开关的优化设计。 | ||
| 搜索关键词： | 开关 性能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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