[发明专利]一种测量热中子吸收材料面密度的方法在审
| 申请号： | 202111067113.X | 申请日： | 2021-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN113866046A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 唐智辉;谷伟刚;务圣杰;张庆利;韦应靖 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01N9/24 | 分类号： | G01N9/24 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;任晓航 |
| 地址： | 030006 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种测量热中子吸收材料面密度的方法。采用本发明所提供方法，通过测量一组面密度已知的热中子吸收材料标准样品的热中子透射率，构建热中子吸收材料透射率与面密度之间的函数关系式，并利用此关系式计算未知样品的面密度，从而构建一种不破坏样品物理构造而快速、准确地测量其热中子吸收核素的面密度的方法。本发明所提供的一种可无损、快速地测量热中子屏蔽材料面密度的方法，具有操作简单，数据可靠的特点，能够对同一材料面密度的均匀性、不同批次材料面密度的重复性进行检测，为材料的研发和使用提供数据依据。同时，采用本发明提供的方法能够实现材料的快速检测，极大地缩短测量时间，更适合工业化应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 热中子 吸收 材料 密度 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国辐射防护研究院，未经中国辐射防护研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111067113.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
