[发明专利]日志规则质量分析方法、系统、电子装置和存储介质在审

专利信息
申请号: 202111069491.1 申请日: 2021-09-13
公开(公告)号: CN113742192A 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 吴洁伟;范渊;刘博 申请(专利权)人: 杭州安恒信息技术股份有限公司
主分类号: G06F11/34 分类号: G06F11/34
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 贺才杰
地址: 310051 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请涉及一种日志规则质量分析方法、系统、电子装置和存储介质,其中,该日志规则质量分析方法包括:获取目标日志解析规则包和日志样例;将所述目标日志解析规则包和所述日志样例输入至日志解析模块以输出第一日志解析结果,并将所述目标日志解析规则包和所述日志样例输入至测试框架以输出第二日志解析结果;其中,所述日志解析模块用于生成所述第一日志解析结果,所述测试框架用于生成所述第二日志解析结果;利用预设的校验规则,根据所述第一日志解析结果和所述第二日志解析结果得到日志解析规则校验结果。通过本申请,解决了解析规则测试结果核对效率慢且出错率高的问题,实现了对日志解析结果的自动化质量分析。
搜索关键词: 日志 规则 质量 分析 方法 系统 电子 装置 存储 介质
【主权项】:
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