[发明专利]一种元器件检测方法、系统、设备及介质在审
| 申请号： | 202111089182.0 | 申请日： | 2021-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN113793323A | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 吴天舒;钟南昌 | 申请（专利权）人： | 云从科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/73;G01V9/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 李铁 |
| 地址： | 511457 广东省广州市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种元器件检测方法、系统、设备及介质，包括：获取原始图像，对原始图像进行分割，获取多个分割图像以及每个分割图像在原始图像中的位置信息；将每个分割图像输入至元器件检测模型中进行元器件检测，获取元器件检测模型对每个分割图像的元器件标注信息；将每个分割图像的元器件标注信息以及每个分割图像在原始图像中的位置信息进行关联，并将关联结果还原至原始图像中，得到原始图像的元器件检测结果。本发明先对原始图像进行分割，然后通过元器件检测模型来识别分割图像中的元器件，可以识别出分割图像中是否存在元器件，以及存在元器件时元器件的类别和位置，所以，本发明可以解决像素值定位方法无法分辨相似定位点的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 元器件 检测 方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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