[发明专利]一种透过率和反射率测量仪及其测量方法在审
| 申请号： | 202111093944.4 | 申请日： | 2021-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN113776786A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 陈永权;达争尚;郑小霞;张伟刚;李铭 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 董娜 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种透过率或反射率测量仪及其测量方法，解决现有光学元件透过率或反射率测试方法，只适用于高反或高透光学元件，探测器误差和光源稳定性对测量结果影响较大的问题。测量仪包括激光光源、设在激光光源出射光路上起偏器和分光镜、旋转单元、第一探测器、第二探测器和信号单元；衰减轮盘、第一探测器依次位于分光镜反射光路上；旋转单元包括定距转轴、二维扫描机构和环形滑轨；定距转轴位于分光镜透射光路上；二维扫描机构设在定距转轴上，用于安装被测光学元件；环形滑轨与定距转轴同轴并设在定距转轴外侧；第二探测器能够在环形滑轨上移动；信号单元控制第一探测器和第二探测器同步采集光信号及采集第一探测器和第二探测器的光信号。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 透过 反射率 测量仪 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111093944.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种中厚板自动探伤系统及其控制方法
- 下一篇：一种抗菌材料及其制备方法
