[发明专利]一种基于深度学习技术的远端芯片缺陷检测系统在审
| 申请号： | 202111096252.5 | 申请日： | 2021-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN113870202A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 程坦;邹爱刚;刘涛;汪玮 | 申请（专利权）人： | 中科海拓（无锡）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62;G06T7/66;G06K9/32;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/02;G06T3/60;G06T5/20 |
| 代理公司： | 安徽善安知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34200 | 代理人： | 陈庭 |
| 地址： | 214000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于深度学习技术的远端芯片缺陷检测系统，包括硬件系统、软件系统和训练模块，所述硬件系统包括网络服务设备、图像存储设备、数据库和负载均衡器，所述软件系统包括图像处理软件、算法处理软件和服务器终端平台软件。本发明所述的一种基于深度学习技术的远端芯片缺陷检测系统，本发明通过软件系统的算法，并提出一种芯片缺陷图像等级划分方法，解决了现有的芯片缺陷IC检测设备只能检测芯片的好坏，但不能对芯片缺陷进行类别划分和等级划分的问题，通过进行人工标记获取包括所有缺陷类别的标准数据集，可以提高检测的精确度，同时本系统可以在单位时间内对大量缺陷图像进行处理，提高了检测速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 深度 学习 技术 远端 芯片 缺陷 检测 系统 | ||
【主权项】：
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