[发明专利]基于离子束高次电离原理的X射线光束位置信息探测器有效
| 申请号： | 202111105812.9 | 申请日： | 2021-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN113840441B | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 张小威;杨福桂;石泓 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | H05H5/02 | 分类号： | H05H5/02;G01N23/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 张乾桢 |
| 地址： | 100049 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于离子束高次电离原理的X射线光束位置信息探测器，包括：离子源、离子加速电极、电磁透镜、扫描器件、待测X射线光束、耦合透镜、离子价态分析器、时间分辨监测控制及数据采集‑处理系统；所述离子源连接到离子加速电极，所述离子电极用于提供几百eV–keV的电极电压；所述离子加速电极后面设置有电磁透镜，用于聚焦被离子加速电极加速后的离子束，提高空间分辨率并且分离出低价离子；所述电磁透镜后面设置有离子束的扫描器件；通过扫描器件后的离子束扫描照射到待测X射线光束，用于对X射线光束进行扫描；通过待测X射线光束之后的离子束被输入到离子价态分析器，用于分离扫描过X射线光束的被高次电离的离子。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 离子束 电离 原理 射线 光束 位置 信息 探测器 | ||
【主权项】：
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