[发明专利]一种高精度的光照强度测量方法及装置在审
| 申请号： | 202111109002.0 | 申请日： | 2021-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN113670436A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 李征;赵一帆 | 申请（专利权）人： | 陕西中天盛隆智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00 |
| 代理公司： | 西安鼎迈知识产权代理事务所(普通合伙) 61263 | 代理人： | 刘喜保 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市国家民用航天产业基*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高精度的光照强度测量方法及装置，由于光线是矢量，光传感器所得到的光强不仅与光源的本身的发光强度有关，也与光线和传感器的角度有关，所以本发明的方法包括：测量六个互相垂直平面上的光照强度；根据每个测量平面上的光照强度确定总光照强度。本发明通过对六个相互垂直的测量平面上光照强度的测量，可以精确的计算出总的光照强度，且计算结果不受光照角度、光源移动如太阳位置的影响，能够为人们提供准确、可靠的总光强度，并可为室外活动提供有用的建议。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 光照强度 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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