[发明专利]用于进行掉电测试的方法、装置和系统有效
| 申请号： | 202111114138.0 | 申请日： | 2021-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN113808655B | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 李波 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/50;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 张殿慧;刘健 |
| 地址： | 430074 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了一种用于进行掉电测试的方法。该方法包括：在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。通过这样的用于进行掉电测试的方法可以有助于优化整个掉电测试的过程，进而实现电子设备中的多个程序被掉电测试来测试到的频次可以是尽量均等的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 进行 掉电 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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