[发明专利]一种用于测试内存信号的测试板在审
| 申请号： | 202111134623.4 | 申请日： | 2021-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN115878390A | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 石宏龙;马茂松 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 王花丽;张颖玲 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种用于测试内存信号的测试板，包括：所述测试板的第一表面包括凸起区域和非凸起区域；其中：所述凸起区域上设置有用于连接主板的第一连接区，所述凸起区域所在平面相对于所述非凸起区域所在平面的高度大于预设值；所述测试板的第二表面包括所述测试区和用于连接内存芯片的第二连接区；所述测试板内设有将所述测试区分别连接到所述第一连接区和所述第二连接区的第一连接线束和第二连接线束，使得基于所述测试区能够测试所述内存芯片的内存信号。本申请能够去除主板上内存芯片的安装位置的尺寸大小的限制，不与内存芯片周边器件发生物理干涉，且无需加入RC匹配，测试板结构更简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 内存 信号 | ||
【主权项】：
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