[发明专利]基于点面配准的平面检测方法在审
申请号: | 202111134647.X | 申请日: | 2021-09-27 |
公开(公告)号: | CN113850854A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 陈学超;李超;余张国;高志发;黄强;黄岩 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G06T7/33 | 分类号: | G06T7/33;G06T7/60 |
代理公司: | 南京智造力知识产权代理有限公司 32382 | 代理人: | 张明明 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于点面配准的平面检测方法,属于三维重建技术领域。本发明方法具体为:利用八叉树表示点云,基于分枝定界的点面配准算法求取种子点云,通过点面配准找到的种子点云,进行区域增长,获取属于同一平面的点云,利用同一平面的点云进行平面拟合,确定平面。本发明基于分枝定界的点面配准算法求取种子点云,寻找的种子点云更稳定、快速,避免最近迭代点陷入局部极值。 | ||
搜索关键词: | 基于 点面配准 平面 检测 方法 | ||
【主权项】:
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