[发明专利]一种测量超导带材临界侧弯半径的装置及方法有效

专利信息
申请号: 202111136868.0 申请日: 2021-09-27
公开(公告)号: CN113884958B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 张展;刘啸;宋云涛;施毅;刘方;刘华军;秦经刚;王其其 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院;合肥综合性国家科学中心能源研究院(安徽省能源实验室)
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01B5/20;G01B5/12
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 张乾桢
地址: 230031 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种测量超导带材临界侧弯半径的装置及方法。测量装置包括不锈钢模具、G10模具、两个铜接头和一个样品杆,其中不锈钢模具为核心部件。不锈钢模具包括一个中心圆柱和多个开口半圆环。通过螺钉将圆环装配到中心圆柱上之后,会在中心圆柱侧面形成一个螺旋上升的槽。超导带材绕制在这些槽中会发生正弯和侧弯,侧弯半径从500mm减小到100mm,每次减小100mm,每个区段之间以相切形式光滑连续的过度。每个区段之间的连接处设为测量点,通过对这些点的测量便可得知哪些半圆环发生了失超,从而可以利用该发明装置来确定超导带材在设定条件下允许的最小侧弯半径。
搜索关键词: 一种 测量 超导 临界 半径 装置 方法
【主权项】:
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