[发明专利]毫米波天线测试装置、毫米波天线测试方法及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111137676.1 申请日: 2021-09-27
公开(公告)号: CN115856448A 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 唐志双;魏国文;余铁柱;李雷;林涛 申请(专利权)人: 中国航空技术国际控股有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何倚雯
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种毫米波天线测试装置、毫米波天线测试方法及计算机可读存储介质,涉及毫米波测试技术领域。该装置包括:主板,用于获取测试指令,并基于测试指令产生测试控制指令;配置模块,与主板连接,用于在测试控制指令的控制下配置测试项;测试模块,与配置模块连接,用于产生与测试项对应的测试信号;接口模块,分别与测试模块及多个毫米波天线连接,用于利用测试信号对多个毫米波天线进行测试。通过上述方式,本申请的毫米波天线测试装置能够同时测试多个天线的需求,从而提高了毫米波测试的效率。
搜索关键词: 毫米波 天线 测试 装置 方法 存储 介质
【主权项】:
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