[发明专利]高光谱异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质有效
| 申请号： | 202111137992.9 | 申请日： | 2021-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN113822208B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 朱济帅;安源;李海霞;刘康;陈木森;李小宝 | 申请（专利权）人： | 海南长光卫星信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06V20/10 | 分类号： | G06V20/10;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08;G06N3/0455 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王晓芬 |
| 地址： | 571152 海南省海口市海口国家高新技*** | 国省代码： | 海南;46 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种高光谱异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。其中，方法包括首先对待处理高光谱图像进行像素块划分，得到每个像元对应的待识别数据像素块。然后将各待识别数据像素块输入至利用预先构建的3D卷积自编码模型中，得到各待识别数据像素块的空谱特征信息。其中，3D卷积自编码模型用于对输入数据像素块进行编码操作得到空谱数据块，并对空谱数据块进行解码重构处理，得到空谱特征信息。再利用预设空谱联合异常方法对各空谱特征信息进行异常概率计算，得到各像元的异常检测结果，最后可根据异常检测结果判断各像元是否异常，从而可有效提升遥感影像的高光谱异常检测的精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 异常 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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