[发明专利]弯曲挠度测量方法和设备、辅助测量装置和存储介质在审

专利信息
申请号: 202111141920.1 申请日: 2021-09-28
公开(公告)号: CN115876064A 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 王华刚;陈少川;罗森文;陆健俊;刘裕城;王志中 申请(专利权)人: 中国电信股份有限公司
主分类号: G01B5/30 分类号: G01B5/30
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 王云飞
地址: 100033 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及一种弯曲挠度测量方法和设备、辅助测量装置和存储介质。该弯曲挠度辅助测量装置包括:包括支架结构、固定板和指针,其中,支架结构,用于支撑平稳整个弯曲挠度辅助测量装置;固定板为形状呈90度的角板,包括水平板和垂直侧板,其中,垂直侧板中空,用于固定百分表;水平板上设置指针;指针,指向固定板垂直侧板,穿过垂直侧板的中空部分;指针上设置有一个凹槽孔,用于卡住百分表指针。本公开制作了一套简单辅助测量装置,在仍旧使用百分表作为测量工具,在测试过程中固定百分表,并且辅助测量装置与测试样品两点接触形成一线,从而提高了测量的稳定性、准确性。
搜索关键词: 弯曲 挠度 测量方法 设备 辅助 测量 装置 存储 介质
【主权项】:
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