[发明专利]一种高分辨率SAR成像参数计算方法在审

专利信息
申请号: 202111143238.6 申请日: 2021-09-28
公开(公告)号: CN114137519A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 程博文;郝梁;赵思阳;蒋帅;刘伟伟;庞亚龙;田苗苗;栾申申 申请(专利权)人: 北京空间飞行器总体设计部
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李微微
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种分辨率SAR成像参数计算方法,该方法将成像场景位置、成像合成孔径时长、滑动因子、最小重频、最大重频等参数作为输入条件,通过星地几何模型,分别计算得到成像场景的零多普勒中心时刻以及成像起始、结束时间,并在成像弧段内,以固定的时间步长,选择符合SAR成像性能指标的重频作为成像参数并输出,既降低了计算次数开销,同时避免了返回迭代的搜索过程,节省存储资源,适用于资源受限条件下的星载环境中实现,便于星载硬件进行部署和实施;本发明可通过修改成像合成孔径时长、滑动因子、最小重频、最大重频等参数,实现不同成像分辨率、成像幅宽的滑动聚束成像模式;并且集成了性能指标计算,具有波位设计一体化的特点。
搜索关键词: 一种 高分辨率 sar 成像 参数 计算方法
【主权项】:
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