[发明专利]基于单一像面光学系统引入CCD不平度误差模型方法在审

专利信息
申请号: 202111147559.3 申请日: 2021-09-29
公开(公告)号: CN113868865A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 班章;李晓波;杨勋;姜禹希 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 朱红玲
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 基于单一像面光学系统引入CCD不平度误差模型方法,涉及光学系统集成仿真技术领域。为解决现有技术难以满足对CCD拼接误差的计算要求,且建模过程较为复杂,容易引起操作失误等问题,本发明包括对CCD位置不平度测试与面形不平度测试;在单一像面引入拼接式CCD不平度误差,避免了依照CCD拼接数量建立对应光学系统,降低了该误差建模的复杂成度,且有效提升全链路像质计算效率。本发明将拼接式CCD不平度误差加载至链路仿真系统中,可分析该项误差引起的像质退化程度,根据退化结果改良设计指标,提升大口径光学系统在轨成像质量。为建立全链路仿真分析中CCD不平度误差模型提供理论基础。
搜索关键词: 基于 单一 光学系统 引入 ccd 平度 误差 模型 方法
【主权项】:
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