[发明专利]一种光学显微镜系统畸变测量方法有效
| 申请号： | 202111160385.4 | 申请日： | 2021-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN113884283B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 房永强;杨军红;李建峰;马晓晨;毕革平;郑铱 | 申请（专利权）人： | 西安汉唐分析检测有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人： | 马凤云 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学显微镜系统畸变测量方法，包括步骤：一、数码相机的筛选与安装；二、放置米字形线纹尺；三、调整显微镜总放大倍率；四、数码相机采集显微镜目镜中米字形线纹尺的图像并传输至计算机；五、测量当前总放大倍率下的显微镜系统畸变。本发明通过米字形线纹尺对显微镜系统畸变进行测量，数码相机拍摄显微镜目镜下的米字形线纹尺的图像，再通过测量图像上四个方向不同长度的所占的像素数来判断显微镜系统畸变的类型，由于米字形线纹尺有四个不同方向的直线线纹尺，因此一次拍摄的图像即可作为全部测量的对象，以减少由于数码相机拍摄的问题存在的测量误差，使测量结果更加准确，使用效果好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 显微镜 系统 畸变 测量方法 | ||
【主权项】：
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