[发明专利]缺陷检测方法及相关装置在审

专利信息
申请号: 202111160510.1 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113902697A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 陈鲁;肖遥;佟异;张嵩 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06T7/73
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 彭家恩
地址: 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了缺陷检测方法及相关装置,缺陷检测检测设备获取待测件的原始图像;根据第一预设阈值与第二预设阈值对原始图像进行二值化处理,并得到二值化图像;根据预设模板图像对二值化图像处理,并得到检测图像;确定检测图像中缺陷特征的缺陷面积;当缺陷面积大于预设面积时,确定缺陷特征在原始图像中的相对位置;当缺陷特征位于预设模板图像的第一模板区域时,确定待测件为缺陷件。通过对原始图像根据不同的阈值进行二值化处理,能够避免颜色差异导致的检测精度降低问题,并且通过判断检测图像中的缺陷面积以及缺陷特征的相对位置,确定待测件是否为缺陷件,避免待测件的图像采集颜色不同造成的缺陷确定错误,提高了待测件的检测准确率。
搜索关键词: 缺陷 检测 方法 相关 装置
【主权项】:
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