[发明专利]基于Surf特征点匹配的纳米CT漂移伪影校正方法及系统在审
| 申请号： | 202111164150.2 | 申请日： | 2021-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN113870376A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 韩玉;刘梦楠;闫镔;李磊;席晓琦;谭思宇;朱林林;杨双站 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00 |
| 代理公司： | 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 | 代理人： | 周艳巧 |
| 地址： | 450000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明属于CT校正技术领域，特别涉及一种基于Surf特征点匹配的纳米CT漂移伪影校正方法及系统，获取纳米CT扫描的正常投影数据，并基于纳米CT扫描的参数通过局部角度旋转获取参考投影数据；将局部旋转角度作为参考角度，获取正常投影数据与参考投影数据的Surf描述子，利用Surf描述子提取正常投影数据和参考投影数据的特征点对；通过正常投影数据和参考投影数据两者之间的结构相似性筛选特征点对，依据筛选出的特征点对来计算参考角度投影漂移量；依据投影漂移量对正常投影数据进行亚像素级平移，以实现漂移伪影校正。本发明能够利用Surf描述子和投影的结构相似性(SSIM)准确完成漂移伪影校正，改善图像重建质量，具有较好市场应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 surf 特征 匹配 纳米 ct 漂移 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
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