[发明专利]一种数显卡尺及测量方法在审
| 申请号： | 202111164917.1 | 申请日： | 2021-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN113916082A | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 陈刚 | 申请（专利权）人： | 南京信息职业技术学院 |
| 主分类号： | G01B3/20 | 分类号： | G01B3/20;G01B11/00 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 熊靖 |
| 地址： | 210023 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种数显卡尺及测量方法，属于测量技术领域，包括水平设置的主尺，所述主尺内倾斜设置多条刻度线，所述刻度线内设有光源；所述主尺垂直方向设有游标尺，所述游标尺与主尺滑动连接用于测量待测部件尺寸；所述游标尺内设有电路板所述电路板上依次分布有传感器、单片机、驱动电路、液晶屏，所述传感器用于检测刻度线交叉位置并将数据传输至单片机，所述单片机用于所接收并处理传感器数据，所述驱动电路根据所述单片机处理的数据结果驱动显示屏显示测量数值。发明中使用的几何原理简单，技术成熟，成本低，测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 种数 显卡 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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