[发明专利]一种微区定位和寻回方法有效

专利信息
申请号: 202111169977.2 申请日: 2021-10-08
公开(公告)号: CN113899920B 公开(公告)日: 2022-08-23
发明(设计)人: 刘金超;梁振兴;杨贤锋;尹诗衡;向兴华 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01Q60/24 分类号: G01Q60/24;G01Q30/02;G01Q10/00;G01N23/2251
代理公司: 郑州中鼎万策专利代理事务所(普通合伙) 41179 代理人: 林新园
地址: 510000*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种微区定位和寻回方法,采用两步定位法,在第一步定位中算出网格十字角位置的坐标值,在第二步定位中通过使用显微分析仪器中的标尺的功能,以图像中显示的标尺为参照的测量方法,综合了计算和测量的优点,不仅提高了定位的精度,将距离测量的精度提高了两个数量级,由报道的十微米级提高到百纳米级,而且大大提高了定位计算过程的容错能力,即第一步定位过程中即使定位误差达数十微米级,仍可采用本方法实现百纳米级别的定位精度;此外,应用本方法还可以在同一次测试中,使用一套标记点可定位多个目标位置,可大大提高微区分析的工作效率,同时为微区分析仪器间的关联成像提供了技术支持。
搜索关键词: 一种 定位 方法
【主权项】:
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