[发明专利]基于脉冲序列的元件损伤特性调控方法及损伤测试系统在审
| 申请号： | 202111181924.2 | 申请日： | 2021-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN113984658A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 刘文凤;孙明营;郭亚晶;崔子健;焦兆阳;石逸群;朱健强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/88 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于脉冲序列的元件损伤特性调控方法及损伤测试系统。通过对脉冲序列进行时域整形，改变脉冲序列时域包络形状，可以实现对光学元件损伤特性的调控。基于脉冲序列的元件损伤测试系统可以输出子脉冲能量比、间隔、数目、偏振均可独立调节的脉冲序列，可以满足不同种类脉冲序列的激光损伤特性调控及损伤测试条件，为探究元件损伤机理和提高元件损伤性能提供实验平台。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 脉冲 序列 元件 损伤 特性 调控 方法 测试 系统 | ||
【主权项】：
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