[发明专利]一种基于低温环境的测试装置在审
申请号: | 202111186950.4 | 申请日: | 2021-10-12 |
公开(公告)号: | CN115963395A | 公开(公告)日: | 2023-04-14 |
发明(设计)人: | 吕翠;苏和;商晋;伍继浩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院理化技术研究所 |
主分类号: | G01R31/34 | 分类号: | G01R31/34;G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 刘春丽 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明适用于低温测试领域,公开了基于低温环境的测试装置,该测试装置用于测试待测设备在低温环境下的转速以及相应转速下待测设备的振动状态,其包括外壳组件、内壳组件以及传感器组件,内壳组件设于外壳组件的第一腔体中,并与外壳组件可拆卸连接,测试装置能够将内壳组件抽真空,并能够在内壳组件内部灌注液氦,使待测设备浸没在液氦中进行高速转动测试,同时能够将外壳组件内部抽中空,从而能够在真空环境和低温环境下对待测设备进行测试,测试精度高,而且由于外壳组件内部处于真空环境,能够有效减小传热,节省试验液氮用量。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 低温 环境 测试 装置 | ||
【主权项】:
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