[发明专利]光学相干层析系统在审
| 申请号： | 202111211605.1 | 申请日： | 2021-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN113940631A | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 安其昌;刘欣悦;李洪文;张景旭;王建立;陈涛 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61B3/12 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学相干层析系统，包括频域光学相干层析装置和自适应光学装置，频域光学相干层析装置的参考臂的数量为N，探测臂的数量与参考臂的数量相匹配；自适应光学装置扫描待测物后所输出的光信号通过耦合器耦合至频域光学相干层析装置的探测臂，光信号经微透镜阵列分为N路测量信号，N路测量信号分别进入相应的探测臂；N路测量信号分别与参考臂中的N路参考信号进行干涉，形成的N路干涉信号传送至N个阵列波导光栅进行分光，分光后的干涉信号入射至光电探测器进行成像。光学相干层析系统能够扩大测量的动态范围，能够实现大通量数据扫描测量、传输,并且本发明提供的光学相干层析系统还能够实现对特定偏振状态待测物的扫描测量。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 相干 层析 系统 | ||
【主权项】：
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