[发明专利]邮轮结构缺陷的处理方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111227107.6 申请日: 2021-10-21
公开(公告)号: CN113886971A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 沈轶斌;黄旭;余风华;潘卫华;黄忠斌;金承泽;杨毅飞;沈毅;高建明;霍晟;王春雷 申请(专利权)人: 上海外高桥造船有限公司
主分类号: G06F30/15 分类号: G06F30/15;G06F119/02;G06F119/04
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 汪喆
地址: 200137 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请提供了一种邮轮结构缺陷的处理方法、装置、电子设备及存储介质,所述处理方法包括:根据邮轮上的待处理缺陷所属的邮轮区域的材料信息以及功能信息,确定出待处理缺陷的缺陷处理等级;根据所述缺陷处理等级以及预设的邮轮区域与缺陷处理等级之间的映射关系,确定待处理缺陷的目标处理方式;利用所述目标处理方式对所述待处理缺陷进行缺陷处理。采用本申请提供的技术方案能够根据邮轮各区域腐蚀防护差异,将邮轮各区域与对应的材料信息表面缺陷处理相匹配,并描述其特有的结构处理等级,提高邮轮结构表面缺陷处理的准确性以及效率。
搜索关键词: 邮轮 结构 缺陷 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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