[发明专利]基于自注意力的对抗自编码器纹理表面缺陷检测方法在审
申请号: | 202111243400.1 | 申请日: | 2021-10-25 |
公开(公告)号: | CN113989216A | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 张琳娜;张芳慧;岑翼刚;张兰尧 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/73;G01N21/88;G06V10/764;G06V10/74;G06V10/82;G06N3/04 |
代理公司: | 贵州派腾知识产权代理有限公司 52114 | 代理人: | 唐斌 |
地址: | 550000 *** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于自注意力的对抗自编码器纹理表面缺陷检测方法,包括以下步骤:步骤1:根据无缺陷的纹理类工业产品图像,搭建基于颜色和形变两种缺陷生成方法,来生成缺陷数据模拟真实的缺陷样本;步骤2:搭建基于自注意力的对抗自编码器纹理表面缺陷检测框架;步骤3:设计输入图像与重构图像的度量损失;步骤4:通过计算测试图像和重构图像的多尺度结构相似性来获得像素级别的异常分数,进而判断测试图像是否有缺陷。本发明可以在给定大量无缺陷纹理类产品表面样本的情况下,准确的定位产品表面出现的缺陷;运行效率高,可以满足实时性要求;且硬件成本低,易于在工业缺陷检测系统中推广,具有良好的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 基于 注意力 对抗 编码器 纹理 表面 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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