[发明专利]高度检测装置在审

专利信息
申请号: 202111249728.4 申请日: 2021-10-26
公开(公告)号: CN113916117A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 俞涛;王占超;许金刚 申请(专利权)人: 上海勤宽科技有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 戴莹瑛
地址: 201204 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明一种高度检测装置,包括第一导电件、第二导电件、检测电路和驱动机构;机架设置有用于放置待测产品的检测平台;第一导电件和第二导电件对应检测平台设置于机架,第一导电件与检测平台相对活动,第二导电件用于与待测产品的导电部接触;检测电路设置于机架,检测电路电连接第一导电件和第二导电件,在第一导电件与检测平台之间的距离为预设距离值,且第一导电件与待测产品的导电部接触的情况下,检测电路导通;驱动机构设置于机架,驱动机构用于驱动第一导电件与检测平台相对活动。采用该高度检测装置比高度规检测效率高且检测精度高,同时高度检测装置比CCD激光检测仪的设备成本低。
搜索关键词: 高度 检测 装置
【主权项】:
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