[发明专利]阻抗校准方法及系统在审
| 申请号： | 202111255408.X | 申请日： | 2021-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN113985134A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 张浩 | 申请（专利权）人： | 上海安路信息科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人： | 黄海霞 |
| 地址： | 200434 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种阻抗校准方法，包括调节第二阻抗调节单元的控制参数，以调节第二阻抗调节单元的阻抗，直至比较器单元输出校准完成信号，将第二阻抗调节单元的控制参数作为第二调节控制参数；之后调节第一阻抗调节单元的控制参数，以调节第一阻抗调节单元的阻抗，直至比较器单元输出校准完成信号，将第一阻抗调节单元的控制参数作为第一调节控制参数，将第一调节控制参数和第二调节控制参数调节高速发射电路，从而使得在对高速发射电路的阻抗校准在校准的过程中，分别以第一电阻单元、第二电阻单元、第三电阻单元作为参考，有效消除了校准过程中累积误差的存在，使得校准后的结果更加准确。本发明还提供了实现阻抗校准方法的阻抗校准系统。 | ||
| 搜索关键词： | 阻抗 校准 方法 系统 | ||
【主权项】：
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