[发明专利]电子设备的故障检验方法在审
| 申请号： | 202111256482.3 | 申请日： | 2021-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN113986593A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 谢建东;吴斌炜;王凯 | 申请（专利权）人： | 北京优刻得科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 崔巍 |
| 地址： | 100044 北京市西城*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种电子设备的故障检验方法，其特征在于，所述方法包括：在所述电子设备重启的情况下，加载AOF文件的每一条记录以获得第二校验字段，所述每一条记录包含第一校验字段；在第二校验字段和第一校验字段不一致的情况下，报告故障；其中，所述第一校验字段是代表所述AOF文件的每一条记录中记载的针对所述电子设备的操作请求的留存数量字段，所述第二校验字段是代表根据针对所述电子设备的操作请求计算得到的数量字段。本申请公开的方法无需额外的文件记录状态，不仅能够检验出内存数据库的程序bug、写乱程序的异常，并且还能解决因AOF文件被局部篡改、覆盖或乱序造成的AOF文件不同步的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 故障 检验 方法 | ||
【主权项】：
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