[发明专利]一种光栅传感器质量检测系统在审

专利信息
申请号: 202111256525.8 申请日: 2021-10-27
公开(公告)号: CN114543862A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 纪海平;李林魏 申请(专利权)人: 深圳市施特安邦科技有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01R31/00
代理公司: 深圳市新虹光知识产权代理事务所(普通合伙) 44499 代理人: 刘菊美
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及光栅传感器检测技术领域,尤其涉及一种光栅传感器质量检测系统。检测系统包括检测仪,该检测仪包括:中央处理模块,用于对检测仪检测到的数据进行分析处理;信息交互模块,与中央处理模块电连接,用于与外部终端进行信息交互;第一检测模块,与中央处理模块电连接,用于检测光栅传感器发射端的电压和电流的状态;第二检测模块,与中央处理模块电连接,用于检测光栅传感器接收端的电压和电流的状态,通过两个检测模块对光栅传感器的接收端和发射端进行检测,进一步的将检测数据传送到中央处理模块上进行处理,再一步的经过信息交互模块进行信息交互,进而实现了对光栅传感器的检测,有效的保证了生产成品的质量和合格率。
搜索关键词: 一种 光栅 传感器 质量 检测 系统
【主权项】:
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