[发明专利]一种像素尺寸、实际尺寸的测量方法及电子设备在审
| 申请号： | 202111258260.5 | 申请日： | 2021-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN113963049A | 公开（公告）日： | 2022-01-21 |
| 发明（设计）人： | 周全;李宜清;肖博翰;简晓敏 | 申请（专利权）人： | 上海精测半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/60 | 分类号： | G06T7/60;G06V20/69;G06V10/25;G06V10/75;G06K9/62;G06N3/04 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 雷霄 |
| 地址： | 201702 上海市青浦区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种像素尺寸、实际尺寸的测量方法及电子设备。该像素尺寸的测量方法包括步骤：分别采集移动待测量对象前后的第一图像和第二图像，分别获得第一图像和第二图像的二值图像；从标志模板库中为第一图像的二值图像选取匹配的标志模板，在第一图像的二值图像中截取包括匹配的标志模板的第一匹配区域并记录第一匹配区域的位置，将第一匹配区域作为标志模板在第二图像的二值图像中搜索匹配的第二匹配区域，并记录第二匹配区域的位置；根据待测量对象的移动位移以及第一匹配区域和第二匹配区域的像素坐标位移计算像素尺寸。本发明将第一匹配区域确定为标志模板，并和第二图像进行匹配以获得第二匹配区域，可精确测量像素尺寸和实际尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 像素 尺寸 实际 测量方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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