[发明专利]一种强磁场下磁致伸缩材料的微观原位测量系统有效
| 申请号： | 202111274281.6 | 申请日： | 2021-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN114002627B | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 祁玉超;张文伟;张明吉;彭程远;李晓龙 | 申请（专利权）人： | 深圳技术大学 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02 |
| 代理公司： | 北京代代志同知识产权代理事务所(普通合伙) 16004 | 代理人： | 冀学军 |
| 地址： | 518118 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种强磁场下磁致伸缩材料的微观原位测量系统，通过设计特定的夹持装置将磁致伸缩材料放置在原位拉伸测量系统和钳形电磁铁中，利用倒置显微镜对磁致伸缩材料的微位移变化进行观察和测量。在强磁场和力场同时作用下，可用于观测磁致伸缩材料的微位移变化以及测量磁致伸缩材料的形变场和‑应力分布，建立强磁场对磁致伸缩材料弹性模量变化的调控机制，实现磁致伸缩材料的微观原位表征。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁场 下磁致 伸缩 材料 微观 原位 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳技术大学，未经深圳技术大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111274281.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
