[发明专利]测量高压下多晶体的单晶弹性性质的系统及方法

摘要

本发明涉及一种测量高压下多晶体的单晶弹性性质的系统及方法，系统包括飞秒激光器和偏振分束晶体，飞秒激光器发出的脉冲光源经过偏振分束晶体后分为激发光和探测光；还包括声光调制器、倍频器、光学延迟模块和高压样品组装模块；所述激发光通过声光调制器和倍频器的调制后到达样品组装模块的样品腔内，能量被多晶样品表面的金属薄膜吸收，激发出超声波，超声波在多晶样品中传播；所述探测光被导入光学延迟模块，然后被导入到样品前的主光轴，与激发光一起聚焦于多晶样品内部；还包括光电探测器、锁相放大器、高速采集卡和计算机，通过实时跟踪测量经声波散射的探测光，获知样品中声速的分布，从而推导出其单晶弹性常数。本发明具有全光学测量、无损、高压强、高精度、实验耗时短等特点，是目前测量超高压下多晶样品单晶弹性性质的优选方案。